帯電液滴エッチングで得られる高分子材料表面挙動のXPS・AFMによる解析
書誌事項
- タイトル別名
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- タイデン エキテキ エッチング デ エラレル コウブンシ ザイリョウ ヒョウメン キョドウ ノ XPS AFM ニ ヨル カイセキ
- Polymer surfaces etched by charged water droplets analyzed with X-ray photoelectron spectrometry and atomic force microscopy
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収録刊行物
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- X線分析の進歩 / 日本分析化学会X線分析研究懇談会 編
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X線分析の進歩 / 日本分析化学会X線分析研究懇談会 編 (42), 221-228, 2011-03
東京 : アグネ技術センター
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キーワード
- X-ray photoelectron spectroscopy
- Depth profiling
- Electrospray droplet impact
- Polyethyleneterephthalate
- Polystyrene
- Polymethylmethacrylate
- Polyvinyl chloride
- Sample surfaces roughness
- Atomic force microscopy
- Photoelectron peak line shape
- X線光電子分光法
- 深さ方向分析
- 帯電液滴衝撃
- 試料荒さ
- 原子間力顕微鏡
- ポリエチレンテレフタレート
- ポリスチレン
- ポリメチルメタクリレート
- ポリ塩化ビニル
- 光電子ピーク現状
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520009410039597824
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- NII論文ID
- 40018795855
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- NII書誌ID
- AN0000592X
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- ISSN
- 09117806
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- NDL書誌ID
- 11072146
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZP4(科学技術--化学・化学工業--分析化学)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles