一定DC反射率フォトリフレクタンス法を使用したショットキー様界面の電界の非接触測定
書誌事項
- タイトル別名
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- イッテイ DC ハンシャリツ フォトリフレクタンスホウ オ シヨウ シタ ショットキー ヨウ カイメン ノ デンカイ ノ ヒセッショク ソクテイ
- Non-contact measurement of electric field at Schottky-like interface using constant-DC-reflectance photoreflectance method
- 令和2年度(2020年度) 福井大学遠赤外領域開発研究センター 研究成果報告書 ; テラヘルツ波分光・計測
- レイワ 2ネンド(2020ネンド) フクイ ダイガクエンセキガイ リョウイキ カイハツ ケンキュウ センター ケンキュウ セイカ ホウコクショ ; テラヘルツハ ブンコウ ・ ケイソク
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収録刊行物
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- 遠赤外領域開発研究 : 福井大学遠赤外領域開発研究センター研究成果報告書 / 福井大学遠赤外領域開発研究センター広報委員会内「遠赤外領域開発研究」編集委員会 編
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遠赤外領域開発研究 : 福井大学遠赤外領域開発研究センター研究成果報告書 / 福井大学遠赤外領域開発研究センター広報委員会内「遠赤外領域開発研究」編集委員会 編 22 75-79, 2020
[福井] : 福井大学遠赤外領域開発研究センター
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520009410063232384
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- NII論文ID
- 40022636311
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- NII書誌ID
- AA12419280
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- NDL書誌ID
- 031592727
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZM35(科学技術--物理学)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles