X線透過試験における平板試験体の散乱比に関する研究-2-狭照射野撮影の場合
書誌事項
- タイトル別名
-
- Xセン トウカ シケン ニ オケル ヘイバン シケンタイ ノ サンランヒ ニ
この論文をさがす
抄録
記事分類: 工業材料・材料試験--組織・欠陥試験・非破壊検査
収録刊行物
-
- 非破壊検査 : Jjournal of the Japanese Society for Non-destructive Inspection / 日本非破壊検査協会 編
-
非破壊検査 : Jjournal of the Japanese Society for Non-destructive Inspection / 日本非破壊検査協会 編 36 (6), p419-425, 1987-06
[東京] : 日本非破壊検査協会
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1520009410214786432
-
- NII論文ID
- 40003264745
-
- NII書誌ID
- AN00208370
-
- ISSN
- 03675866
-
- NDL書誌ID
- 3138718
-
- 本文言語コード
- ja
-
- NDL 雑誌分類
-
- ZM16(科学技術--科学技術一般--工業材料・材料試験)
-
- データソース種別
-
- NDL
- CiNii Articles