高温超伝導体における構造ゆらぎ--誘電体,合金と対比して
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- Other Title
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- コウオン チョウデンドウタイ ニ オケル コウゾウユラギ ユウデンタイ ゴウキン ト タイヒ シテ
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- 電子顕微鏡 / 「電子顕微鏡」編集委員会 編
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電子顕微鏡 / 「電子顕微鏡」編集委員会 編 34 (2), 76-80, 1999-07
東京 : 日本顕微鏡学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520009410276621568
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- NII Article ID
- 10004539361
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- NII Book ID
- AN00153086
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- ISSN
- 04170326
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- NDL BIB ID
- 4825338
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles