ゲートレベル組合せ回路の単一論理設計誤りに対する診断手法
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- ゲートレベル クミアワセ カイロ ノ タンイツ ロンリ セッケイ アヤマリ ニ
- テスティング技術論文特集
- テスティング ギジュツ ロンブン トクシュウ
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- 電子情報通信学会論文誌. D-1, 情報・システム. 1, 情報処理 = The IEICE transactions on information and systems. Pt. 1 / 電子情報通信学会 編
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電子情報通信学会論文誌. D-1, 情報・システム. 1, 情報処理 = The IEICE transactions on information and systems. Pt. 1 / 電子情報通信学会 編 79 (12), 1009-1016, 1996-12
東京 : 電子情報通信学会情報・システムソサイエティ
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520009410291356800
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- NII Article ID
- 110003315631
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- NII Book ID
- AN10071319
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- ISSN
- 09151915
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- NDL BIB ID
- 4105770
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles
