多出力組合せ論理回路の局所全数テストのための最小テスト集合の生成--M系列発生器とEXORゲートを用いて

詳細情報 詳細情報について

• CRID

  1520009410304568320

• NII論文ID

  110003315889

• NII書誌ID

  AN10071319

• ISSN

  09151915

• NDL書誌ID

  3858958

• Web Site

  http://id.ndl.go.jp/bib/3858958

  https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I3858958

• 本文言語コード

  ja

• NDL 雑誌分類

  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)

• データソース種別

  • NDL
  • CiNii Articles