The Femtosecond Photobleaching Study of CdS Nanoparticles in Nafion Films:The Effects of Defect Trapping Sites on the Surface of the Particles

詳細情報 詳細情報について

• CRID

  1520009410310462336

• NII論文ID

  110007530135

• NII書誌ID

  AN00103204

• ISSN

  02863383

• NDL書誌ID

  4183871

• Web Site

  http://id.ndl.go.jp/bib/4183871

  https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I4183871

• 本文言語コード

  en

• NDL 雑誌分類

  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)

• データソース種別

  • NDLサーチ
  • CiNii Articles