先端実験技術シリーズ 全反射現象を利用した蛍光X線表面分析法
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- センタン ジッケン ギジュツ シリーズ ゼン ハンシャ ゲンショウ オ リヨウ
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- まてりあ = Materia Japan
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まてりあ = Materia Japan 35 (12), 1333-1338, 1996-12
仙台 : 日本金属学会 ; 1994-
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520009410339377664
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- NII Article ID
- 10001870482
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- NII Book ID
- AN10433227
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- ISSN
- 13402625
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- NDL BIB ID
- 4106828
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZP41(科学技術--金属工学・鉱山工学)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles
