製品と技術 シグナルインテグリティを実現するマルチ測定器--アイパターン解析器とビットエラー試験器の融合
書誌事項
- タイトル別名
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- セイヒン ト ギジュツ シグナルインテグリティ オ ジツゲン スル マルチ ソクテイキ アイパターン カイセキキ ト ビットエラー シケンキ ノ ユウゴウ
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収録刊行物
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- 計測技術 / 計測技術編集委員会 編
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計測技術 / 計測技術編集委員会 編 38 (10), 47-51, 2010-09
東京 : 日本工業出版
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520010380059371392
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- NII論文ID
- 40017247281
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- NII書誌ID
- AN00072370
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- ISSN
- 03859886
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- NDL書誌ID
- 10795331
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZM15(科学技術--科学技術一般--測定・測定器)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles