防汚・耐指紋性評価法としての接触角測定
Bibliographic Information
- Other Title
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- ボウオ ・ タイシモンセイ ヒョウカホウ ト シテ ノ セッショクカク ソクテイ
- 特集 最新の分析・評価技術と応用事例
- トクシュウ サイシン ノ ブンセキ ・ ヒョウカ ギジュツ ト オウヨウ ジレイ
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Journal
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- Polyfile = ポリファイル : 高分子関連技術情報誌
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Polyfile = ポリファイル : 高分子関連技術情報誌 50 (10), 28-33, 2013-10
東京 : 大成社
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520010380162801792
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- NII Article ID
- 40019837090
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- NII Book ID
- AN10153107
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- ISSN
- 09102175
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- NDL BIB ID
- 024948177
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZP16(科学技術--化学・化学工業--高分子化学・高分子化学工業)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles
