TrueIR赤外線サーモグラフィ : ファインレゾリューションにより微細部品レベルまで評価が可能
書誌事項
- タイトル別名
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- TrueIR セキガイセン サーモグラフィ : ファインレゾリューション ニ ヨリ ビサイ ブヒン レベル マデ ヒョウカ ガ カノウ
- 特集 進化する赤外線サーモグラフィとその応用
- トクシュウ シンカ スル セキガイセン サーモグラフィ ト ソノ オウヨウ
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収録刊行物
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- 計測技術 / 計測技術編集委員会 編
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計測技術 / 計測技術編集委員会 編 43 (4), 1-4, 2015-03
東京 : 日本工業出版
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520010380550827648
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- NII論文ID
- 40020378310
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- NII書誌ID
- AN00072370
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- ISSN
- 03859886
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- NDL書誌ID
- 026193907
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZM15(科学技術--科学技術一般--測定・測定器)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles