CMOSイメージセンサ向け界面準位低減効果を有する新たな機能性シリコンウェーハの研究
Bibliographic Information
- Other Title
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- CMOS イメージセンサ ムケ カイメン ジュンイ テイゲン コウカ オ ユウスル アラタ ナ キノウセイ シリコンウェーハ ノ ケンキュウ
- Study on new functional silicon wafers with reduction effect of interface state density for CMOS image sensors
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Journal
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- 応用物理
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応用物理 93 (1), 33-37, 2024-01
東京 : 応用物理学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520017586047243392
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- NII Book ID
- AN00026679
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- ISSN
- 03698009
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- NDL BIB ID
- 033255876
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZM17(科学技術--科学技術一般--力学・応用力学)
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- Data Source
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- NDL