書誌事項
- タイトル別名
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- メンエキ デンケン ニ オケル トラブルシューティング
- Immuno-electron microscopy problems and solutions
- 特集 電子顕微鏡試料作製におけるトラブルシューティング
- トクシュウ デンシ ケンビキョウ シリョウ サクセイ ニ オケル トラブルシューティング
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収録刊行物
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- 顕微鏡 = Microscopy / 「顕微鏡」編集委員会 編
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顕微鏡 = Microscopy / 「顕微鏡」編集委員会 編 42 (1), 16-18, 2007
東京 : 日本顕微鏡学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520290882047386112
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- NII論文ID
- 10018912844
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- NII書誌ID
- AA11917781
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- ISSN
- 13490958
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- NDL書誌ID
- 8780833
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles
- KAKEN