記念講演 光音響・発光同時計測及び時間分解発光計測による窒化物半導体の内部量子効率と輻射・非輻射再結合寿命の測定
書誌事項
- タイトル別名
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- キネン コウエン ヒカリ オンキョウ ・ ハッコウ ドウジ ケイソク オヨビ ジカン ブンカイ ハッコウ ケイソク ニ ヨル チッカブツ ハンドウタイ ノ ナイブ リョウシ コウリツ ト フクシャ ・ ヒフクシャ サイケツゴウ ジュミョウ ノ ソクテイ
- Determination of internal quantum efficiency and recombination lifetime by simultaneous photo-acoustic and photoluminescence measurements in GaN
- レーザ・量子エレクトロニクス
- レーザ ・ リョウシ エレクトロニクス
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収録刊行物
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 116 (372), 15-20, 2016-12-16
東京 : 電子情報通信学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520290882087370624
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- NII論文ID
- 40021060776
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- NII書誌ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- NDL書誌ID
- 027844096
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles