R面, A面, C面サファイア基板の誘電率測定とその基板を用いたYBCO薄膜の形成

詳細情報 詳細情報について

• CRID

  1520290882371548032

• NII論文ID

  110003174261

  10011880618

  110003179335

• NII書誌ID

  AN10013185

• ISSN

  09135685

• NDL書誌ID

  6588737

  6589536

• Web Site

  http://id.ndl.go.jp/bib/6588737

  https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I6588737

  http://id.ndl.go.jp/bib/6589536

  https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I6589536

• 本文言語コード

  ja

• NDL 雑誌分類

  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)

• データソース種別

  • NDLサーチ
  • CiNii Articles