素子特性経時劣化
書誌事項
- タイトル別名
-
- ソシ トクセイケイジ レッカ
- Time-Dependent Degradation in Device Characteristics
- 特集 ディペンダブルVLSIシステム
- トクシュウ ディペンダブル VLSI システム
この論文をさがす
収録刊行物
-
- 信頼性 = The journal of Reliability Engineering Association of Japan : 日本信頼性学会誌
-
信頼性 = The journal of Reliability Engineering Association of Japan : 日本信頼性学会誌 35 (8), 457-465, 2013-12
東京 : 日本信頼性学会
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1520290882394867584
-
- NII論文ID
- 40019925214
-
- NII書誌ID
- AN10540883
-
- ISSN
- 09192697
-
- NDL書誌ID
- 025111163
-
- 本文言語コード
- ja
-
- NDL 雑誌分類
-
- ZM1(科学技術--科学技術一般)
-
- データソース種別
-
- NDL
- CiNii Articles