Bibliographic Information
- Other Title
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- ダイキエノキ シュウセキ カイロ ノ シンライセイ ホットスポット ミエル カ ニ カンスル イチ シコウ
- A Trial for Reliability Hot spot Visualization for Large-scale Integrated Circuits
- コンピュータシステム 組込み技術とネットワークに関するワークショップETNET2013
- コンピュータ システム クミコミ ギジュツ ト ネットワーク ニ カンスル ワークショップ ETNET2013
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Journal
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 112 (481), 103-108, 2013-03
東京 : 電子情報通信学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520290882463338240
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- NII Article ID
- 110009551170
- 110009713138
- 110009712973
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- NII Book ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles