光応答測定による半導体内部構造解析方法
書誌事項
- タイトル別名
-
- ヒカリ オウトウ ソクテイ ニ ヨル ハンドウタイ ナイブ コウゾウ カイセキ ホウホウ
- Analytic method of the optical response mode for semiconductor materials
この論文をさがす
抄録
コレクション : 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 独立行政法人
収録刊行物
-
- 独立行政法人国立高等専門学校機構大島商船高等専門学校紀要 = The bulletin of Institute of National Colleges of Technology, Japan, Oshima College of Maritime Technology / 国立高等専門学校機構大島商船高等専門学校 編
-
独立行政法人国立高等専門学校機構大島商船高等専門学校紀要 = The bulletin of Institute of National Colleges of Technology, Japan, Oshima College of Maritime Technology / 国立高等専門学校機構大島商船高等専門学校 編 (42), 21-28, 2009-12
周防大島町 (山口県) : 国立高等専門学校機構大島商船高等専門学校
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1520290882481366656
-
- NII論文ID
- 110009423986
-
- NII書誌ID
- AA12550241
-
- ISSN
- 18814891
-
- NDL書誌ID
- 024930256
-
- 本文言語コード
- ja
-
- NDL 雑誌分類
-
- ZN24(科学技術--運輸工学--船舶)
-
- データソース種別
-
- NDL
- CiNii Articles