電子密度分布測定のためのミリ波干渉計の開発と実験室における動作検証実証
書誌事項
- タイトル別名
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- デンシ ミツド ブンプ ソクテイ ノ タメ ノ ミリハ カンショウケイ ノ カイハツ ト ジッケンシツ ニ オケル ドウサ ケンショウ ジッショウ
- Development of millimeter-wave interferometer for electron density profile measurement and its validation experiment in a lab
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収録刊行物
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- 福岡工業大学エレクトロニクス研究所所報 = Reports of the Electronics Research Laboratory, Fukuoka Institute of Technology
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福岡工業大学エレクトロニクス研究所所報 = Reports of the Electronics Research Laboratory, Fukuoka Institute of Technology 31 7-10, 2014-10
福岡 : 福岡工業大学総合研究機構エレクトロニクス研究所
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520290882603382528
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- NII論文ID
- 40020279829
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- NII書誌ID
- AN10015464
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- ISSN
- 0911050X
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- NDL書誌ID
- 025939839
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- データソース種別
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- NDLサーチ
- CiNii Articles