ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : ハンマリング加振機構の特性に関する基礎的検討(26)
書誌事項
- タイトル別名
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- ハンマリングカシンキコウ オヨビ ビシュウドウ キコウ ニ ヨル デンキ セッテン ノ レッカ ゲンショウ : ハンマリングカシンキコウ ノ トクセイ ニ カンスル キソテキ ケントウ(26)
- Degradation Phenomenon of Electrical Contacts using Hammering Oscillating Mechanism and Micro-Sliding Mechanism : A fundamental study on the performance of the hammering oscillating mechanism (26)
- 機構デバイス
- キコウ デバイス
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収録刊行物
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 112 (370), 27-32, 2012-12-21
東京 : 電子情報通信学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520290883033146496
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- NII論文ID
- 110009667131
- 40019545330
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- NII書誌ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- NDL書誌ID
- 024195621
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles