表面電位差分布を利用した極微小表面き裂の高精度評価
Bibliographic Information
- Other Title
-
- ヒョウメン デンイサ ブンプ オ リヨウシタ ゴクビショウ ヒョウメン キレツ ノ コウセイド ヒョウカ
- Sensitive NDE of a shallow surface crack utilizing surface potential drop distribution
- 特集 電磁気的手法による材料・きずの定量評価
- トクシュウ デンジキテキ シュホウ ニ ヨル ザイリョウ キズ ノ テイリョウ ヒョウカ
Search this article
Journal
-
- 非破壊検査 : Jjournal of the Japanese Society for Non-destructive Inspection / 日本非破壊検査協会 編
-
非破壊検査 : Jjournal of the Japanese Society for Non-destructive Inspection / 日本非破壊検査協会 編 57 (5), 236-239, 2008-05
[東京] : 日本非破壊検査協会
- Tweet
Details 詳細情報について
-
- CRID
- 1520290883152570368
-
- NII Article ID
- 10021165188
-
- NII Book ID
- AN00208370
-
- ISSN
- 03675866
-
- NDL BIB ID
- 9492853
-
- Text Lang
- ja
-
- NDL Source Classification
-
- ZM16(科学技術--科学技術一般--工業材料・材料試験)
-
- Data Source
-
- NDL
- CiNii Articles
