書誌事項
- タイトル別名
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- ストレス ギジュツ オ クワエタ フジュンブツ ヘンセキ Schottky ソース ドレイン トランジスタ オ モチイタ 0 7V ニ オケル SRAM トクセイ
- 0.7V SRAM technology with stress-enhanced dopant segregated Schottky (DSS) source/drain transistors for 32nm node
- シリコン材料・デバイス
- シリコン ザイリョウ デバイス
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収録刊行物
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 107 (194), 131-134, 2007-08
東京 : 電子情報通信学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520290883237774720
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- NII論文ID
- 110006391856
- 110006390359
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- NII書誌ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles