書誌事項
- タイトル別名
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- チュートリアル 静電気放電から機器を守る 誤動作原因はイミュニティ試験をくぐり抜ける(上)
- チュートリアル セイデンキ ホウデン カラ キキ オ マモル ゴドウサ ゲンイン ワ イミュニティ シケン オ クグリヌケル ジョウ
- チュートリアル 静電気放電から機器を守る 誤動作原因はイミュニティ試験をくぐり抜ける(上)
- Tutorial: Protecting devices from ESD: the reasons for malfunctions can pass immunity tests (first half)
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抄録
「原因不明の誤動作が起きる。何の痕跡もなく，何が原因か分からない」─こうした誤動作の原因として疑われるのが静電気放電（ESD）である。ESDに対する電子機器の耐性（イミュニティ）試験を行い，基準値を達成しているにもかかわらず生じる誤動作が，特に問題となっている。
収録刊行物
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- 日経エレクトロニクス = Nikkei electronics : sources of innovation
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日経エレクトロニクス = Nikkei electronics : sources of innovation (960), 156-160, 2007-09-10
東京 : 日経BP
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520290883620017920
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- NII論文ID
- 40015559034
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- NII書誌ID
- AN0018467X
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- ISSN
- 03851680
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- NDL書誌ID
- 8887671
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- データソース種別
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- NDL
- Nikkei BP
- CiNii Articles
