BIT薄膜に及ぼす下部Pt電極の安定性

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  • BIT ハクマク ニ オヨボス カブ Pt デンキョク ノ アンテイセイ
  • 特集:シリコン関連材料の作製と評価
  • トクシュウ シリコン カンレン ザイリョウ ノ サクセイ ト ヒョウカ

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Details

  • CRID
    1520290883894871040
  • NII Article ID
    110003311193
  • NII Book ID
    AA1123312X
  • ISSN
    09135685
  • NDL BIB ID
    7222799
  • Text Lang
    ja
  • NDL Source Classification
    • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • Data Source
    • NDL
    • CiNii Articles

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