EBSD法とチップ増強型偏光近接場ラマン分光法によるハイブリット評価を用いた歪マッピング技術の開発
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- EBSDホウ ト チップ ゾウキョウガタ ヘンコウ キンセツジョウ ラマン ブンコウホウ ニ ヨル ハイブリット ヒョウカ オ モチイタ ワイ マッピング ギジュツ ノ カイハツ
- Development of Strain Mapping Technique by Hybrid Evaluation Combining Tip-enhanced Polarization Near-field Raman Micro-Spectroscopy with EBSD method
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Journal
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- 名城大学総合研究所紀要 = Bulletin of Research Institute of Meijo University / 名城大学総合研究所 編
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名城大学総合研究所紀要 = Bulletin of Research Institute of Meijo University / 名城大学総合研究所 編 (17), 111-114, 2012
名古屋 : 名城大学総合研究所
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520290883901001344
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- NII Article ID
- 40020145929
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- NII Book ID
- AN10581869
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- ISSN
- 13448099
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- NDL BIB ID
- 025627875
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZM2(科学技術--科学技術一般--大学・研究所・学会紀要)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles
