書誌事項
- タイトル別名
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- サンカ アエン ハクマク トランジスタ ZnO TFT ノ バイアスストレス レッカ メカニズム
- Bias-temperature instability in Zin oxide thin-film transistors
- 信頼性
- シンライセイ
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収録刊行物
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 111 (33), 19-22, 2011-05-13
東京 : 電子情報通信学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520290883906417280
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- NII論文ID
- 110008725681
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- NII書誌ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- NDL書誌ID
- 11118247
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles