セラミックチップ部品のクラック解析技術 : 電位コントラスト法による微小クラックの検出
書誌事項
- タイトル別名
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- セラミックチップ ブヒン ノ クラック カイセキ ギジュツ : デンイ コントラストホウ ニ ヨル ビショウ クラック ノ ケンシュツ
- Failure Analysis Technique for Crack of Ceramic Chip Components : Detective Technique for Crack using Voltage Contrast SEM Image
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収録刊行物
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- 日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム発表報文集 = Proceedings of Spring Symposium on Reliability
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日本信頼性学会春季信頼性シンポジウム発表報文集 = Proceedings of Spring Symposium on Reliability 26 39-42, 2018-06-04
東京 : 日本信頼性学会