書誌事項
- タイトル別名
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- SiC パワーデバイス オ タイショウ ト シタ クリカエシ UIS シケン ニ ヨル トクセイ ヒョウカ
- Experimental evaluation using repetitive UIS test for SiC power devices
- 電子デバイス 半導体電力変換合同研究会・パワーデバイス・パワーエレクトロニクスとその実装技術
- デンシ デバイス ハンドウタイ デンリョク ヘンカン ゴウドウ ケンキュウカイ ・ パワーデバイス ・ パワーエレクトロニクス ト ソノ ジッソウ ギジュツ
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収録刊行物
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- 電気学会研究会資料. EDD = The papers of technical meeting on electron devices, IEE Japan / 電子デバイス研究会 [編]
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電気学会研究会資料. EDD = The papers of technical meeting on electron devices, IEE Japan / 電子デバイス研究会 [編] 2018 (49-52・54-60), 19-24, 2018-11-01
東京 : 電気学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520290884962302080
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- NII論文ID
- 40021750216
- 40021750084
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- NII書誌ID
- AN1044178X
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles