後方散乱線によるX線画像の最近の進歩
書誌事項
- タイトル別名
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- コウホウ サンランセン ニ ヨル X センガゾウ ノ サイキン ノ シンポ
- Recent advanced in back scatter X-ray imaging
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収録刊行物
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- X線分析の進歩 / 日本分析化学会X線分析研究懇談会 編
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X線分析の進歩 / 日本分析化学会X線分析研究懇談会 編 (42), 53-58, 2011-03
東京 : アグネ技術センター
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520290885017115648
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- NII論文ID
- 40018795839
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- NII書誌ID
- AN0000592X
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- ISSN
- 09117806
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- NDL書誌ID
- 11071764
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZP4(科学技術--化学・化学工業--分析化学)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles