コプレーナ線路特性のディエンベティング : シミュレーションにおけるポート特性の除去
書誌事項
- タイトル別名
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- コプレーナ センロ トクセイ ノ ディエンベティング : シミュレーション ニ オケル ポート トクセイ ノ ジョキョ
- De-embedding of Coplanar Waveguide Characteristics : Removal of port characteristics in simulation
- 電子デバイス研究会 5G/6G,IoTを支えるマイクロ波・ミリ波・テラヘルツ波技術
- デンシ デバイス ケンキュウカイ 5G/6G,IoT オ ササエル マイクロハ ・ ミリハ ・ テラヘルツハ ギジュツ
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収録刊行物
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- 電気学会研究会資料. EDD = The papers of technical meeting on electron devices, IEE Japan / 電子デバイス研究会 [編]
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電気学会研究会資料. EDD = The papers of technical meeting on electron devices, IEE Japan / 電子デバイス研究会 [編] 2021 (59-64), 1-4, 2021-12-23
東京 : 電気学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520290932521776640
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- NII論文ID
- 40022793506
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- NII書誌ID
- AN1044178X
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- NDL書誌ID
- 031920120
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles