X線回折を用いた簡便な転位解析法

Bibliographic Information

Other Title
  • Xセン カイセツ オ モチイタ カンベン ナ テンイ カイセキホウ
  • Easy Dislocation Analysis by Means of X-Ray Diffraction
  • 特集 溶射皮膜の特性を知るための測定・観察・解析手法
  • トクシュウ ヨウシャ ヒマク ノ トクセイ オ シル タメ ノ ソクテイ ・ カンサツ ・ カイセキ シュホウ

Search this article

Journal

Details 詳細情報について

Report a problem

Back to top