IC/LSI高信頼性化のための良品解析
Bibliographic Information
- Other Title
-
- IC LSI コウシンライセイカ ノ タメ ノ リョウヒン カイセキ
- Observations and analyses on device structures for reliability of IC/LSI
- 信頼性
- シンライセイ
Search this article
Journal
-
- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
-
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 109 (94), 1-6, 2009-06-19
東京 : 電子情報通信学会
- Tweet
Details 詳細情報について
-
- CRID
- 1520572357273131264
-
- NII Article ID
- 110007340282
-
- NII Book ID
- AA1123312X
-
- ISSN
- 09135685
-
- NDL BIB ID
- 10274679
-
- Text Lang
- ja
-
- NDL Source Classification
-
- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
-
- Data Source
-
- NDL
- CiNii Articles