書誌事項
- タイトル別名
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- 壊して作るHALT活用設計 コスト競争力の源泉に--国内大手電機メーカーが本格導入へ
- コワシテ ツクル HALT カツヨウ セッケイ コスト キョウソウリョク ノ ゲンセン ニ コクナイ オオテ デンキ メーカー ガ ホンカク ドウニュウ エ
- 壊して作るHALT活用設計 コスト競争力の源泉に--国内大手電機メーカーが本格導入へ
- Creation through destruction: cost competitiveness through HALT usage
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説明
「この結果には、正直驚いた。期待していた以上の効果だった」─。新しい試験技術「HALT（highly accelerated life test）」の実力を評価した国内大手電機メーカーA社の技術者は驚きを隠さない。 A社はHALTの評価を2011年6月に実施した（図1）。試験対象には、大手ベンダーから購入した2種類のSSD「SSD-1」「SSD-2」を用いた。
収録刊行物
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- 日経エレクトロニクス = Nikkei electronics : sources of innovation
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日経エレクトロニクス = Nikkei electronics : sources of innovation (1067), 65-72, 2011-10-17
東京 : 日経BP
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520572357602701312
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- NII論文ID
- 40019021077
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- NII書誌ID
- AN0018467X
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- ISSN
- 03851680
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- NDL書誌ID
- 11266856
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- データソース種別
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- NDLサーチ
- Nikkei BP
- CiNii Articles
