単一磁束量子論理回路のための故障モデルとテストパターン生成手法の検討
Bibliographic Information
- Other Title
-
- タンイツジソク リョウシ ロンリ カイロ ノ タメ ノ コショウ モデル ト テストパターン セイセイ シュホウ ノ ケントウ
- Fault modeling and test generation for single flux quantum logic circuits
- 超伝導エレクトロニクス
- チョウデンドウ エレクトロニクス
Search this article
Journal
-
- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
-
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 110 (139), 31-35, 2010-07-22
東京 : 電子情報通信学会
- Tweet
Details 詳細情報について
-
- CRID
- 1520572357756789248
-
- NII Article ID
- 110008094787
-
- NII Book ID
- AA1123312X
-
- ISSN
- 09135685
-
- NDL BIB ID
- 10786790
-
- Text Lang
- ja
-
- NDL Source Classification
-
- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
-
- Data Source
-
- NDL
- CiNii Articles
