書誌事項
- タイトル別名
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- 特集 リーク電力対策,待ったなし,設計自動化で乗り切る
- トクシュウ リーク デンリョク タイサク マッタナシ セッケイ ジドウカ デ ノリキル
- 特集 リーク電力対策,待ったなし,設計自動化で乗り切る
- Special feature: Design automation will be used to cope with leak current
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抄録
65nm世代の論理LSIの市場投入に当たって，大手半導体メーカーが低消費電力化に向けた回路技術を総動員し始めた。オンチップ電源スイッチ，基板バイアス制御技術，周波数・電源電圧の動的／静的制御技術などの製品適用が本格化している。狙いは，微細化とともに急増するリーク電力などへの対策である。
収録刊行物
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- 日経エレクトロニクス = Nikkei electronics : sources of innovation
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日経エレクトロニクス = Nikkei electronics : sources of innovation (960), 103-110, 2007-09-10
東京 : 日経BP
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520572357766147712
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- NII論文ID
- 40015559029
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- NII書誌ID
- AN0018467X
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- ISSN
- 03851680
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- NDL書誌ID
- 8887579
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- データソース種別
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- NDL
- Nikkei BP
- CiNii Articles