同時R/W課題への耐性を有する階層型レプリカビット線技術を用いた45nm2ポート 8T-SRAM
Bibliographic Information
- Other Title
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- ドウジ R W カダイ エノ タイセイ オ ユウスル カイソウガタ レプリカ ビットセン ギジュツ オ モチイタ 45nm 2 ポート 8T SRAM
- A 45nm 2port 8T-SRAM using hierarchical replica bitline technique with immunity from simultaneous R/W access issues
- シリコン材料・デバイス
- シリコン ザイリョウ デバイス
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Journal
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 107 (194), 145-148, 2007-08
東京 : 電子情報通信学会
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Keywords
Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520572358024350464
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- NII Article ID
- 110006391859
- 110006390362
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- NII Book ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles