Characterization of Bar-Shaped Stacking Faults in 4H-SiC Epitaxial Layers by High-Resolution Transmission Electron Microscopy
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収録刊行物
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- Japanese journal of applied physics : JJAP
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Japanese journal of applied physics : JJAP 52 (6), 2013-06
Tokyo : The Japan Society of Applied Physics
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520572358460724608
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- NII論文ID
- 40019678235
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- NII書誌ID
- AA12295836
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- ISSN
- 00214922
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- NDL書誌ID
- 024644548
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- 本文言語コード
- en
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- NDL 雑誌分類
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- ZM35(科学技術--物理学)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles