Effect of Bias Temperature Stress on the Anti-Reflection HfO₂ Layer in Complementary Metal Oxide Semiconductor Image Sensors
書誌事項
- タイトル別名
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- Special Issue : Electronic Materials and Nanotechnology for Green Environment
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収録刊行物
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- Japanese journal of applied physics : JJAP
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Japanese journal of applied physics : JJAP 52 (10), 2013-10
Tokyo : The Japan Society of Applied Physics
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520572358529586816
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- NII論文ID
- 40019841271
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- NII書誌ID
- AA12295836
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- ISSN
- 00214922
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- NDL書誌ID
- 024955108
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- 本文言語コード
- en
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- NDL 雑誌分類
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- ZM35(科学技術--物理学)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles