書誌事項
- タイトル別名
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- ショウタイ コウエン チョウオンパ ケイソク ト デンキ デンシ ザイリョウ
- Ultrasonic Measurement of Electronic Materials
- 超音波
- チョウオンパ
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収録刊行物
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- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
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電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 111 (443), 23-28, 2012-02-23
東京 : 電子情報通信学会
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キーワード
- 超音波マイクロスペクトロスコピー
- 直線集束ビーム超音波顕微鏡
- 漏洩弾性表面波とバルク波の音速測定
- 精密計測
- ゼロCTE温度
- 仮想温度
- 材料評価
- 音響関連物理定数
- 圧電単結晶
- LiNbO₃
- LiTaO₃
- 人工水晶
- TiO₂-SiO₂超低膨張ガラス
- 合成石英ガラス
- ultrasonic micro-spectroscopy
- line-focus-beam acoustic microscopy
- leaky surface-acoustic-wave and bulk-wave velocity measurements
- precise measurement
- zero-CTE temperature
- fictive temperature
- material characterization
- acoustical physical constants
- piezoelectric single crystals
- synthetic α-quartz
- TiO₂-SiO₂ ULE glass
- synthetic silica glass
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520572358649905152
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- NII論文ID
- 110009481819
- 10031103017
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- NII書誌ID
- AA1123312X
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- ISSN
- 09135685
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- NDL書誌ID
- 023493833
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles
