書誌事項
- タイトル別名
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- ブンコウ エリプソメトリー ノ キソ ト タイヨウ デンチ ヒョウカ エ ノ オウヨウ
- Fundamental of spectroscopic ellipsometry and application to solar cell characterization
- 最近の偏光計測の動向
- サイキン ノ ヘンコウ ケイソク ノ ドウコウ
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収録刊行物
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- 光学 = Japanese journal of optics : publication of the Optical Society of Japan
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光学 = Japanese journal of optics : publication of the Optical Society of Japan 39 (8), 372-378, 2010-08
東京 : 日本光学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520572358918259712
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- NII論文ID
- 10026586217
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- NII書誌ID
- AN00080324
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- ISSN
- 03896625
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- NDL書誌ID
- 10811633
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZM35(科学技術--物理学)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles