GaN HEMTの高温通電劣化への窒化膜電気伝導の影響
Bibliographic Information
- Other Title
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- GaN HEMT ノ コウオン ツウデン レッカ エ ノ チッカマク デンキ デンドウ ノ エイキョウ
- High-temperature GaN HEMT Degradation Affected by Silicon Nitride Film Conductivity
- 電子デバイス研究会 次世代化合物半導体デバイスの機能と応用
- デンシ デバイス ケンキュウカイ ジセダイ カゴウブツ ハンドウタイ デバイス ノ キノウ ト オウヨウ
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- 電気学会研究会資料. EDD = The papers of technical meeting on electron devices, IEE Japan / 電子デバイス研究会 [編]
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電気学会研究会資料. EDD = The papers of technical meeting on electron devices, IEE Japan / 電子デバイス研究会 [編] 2016 (36-45), 49-53, 2016-03
東京 : 電気学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520572359939298048
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- NII Article ID
- 40020998933
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- NII Book ID
- AN1044178X
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- NDL BIB ID
- 027732988
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles
