低軟X線領域における大口径シリコンドリフト検出器を利用した部分蛍光収量XAFS測定
Bibliographic Information
- Other Title
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- テイナンXセン リョウイキ ニ オケル ダイコウケイ シリコンドリフト ケンシュツキ オ リヨウ シタ ブブン ケイコウ シュウリョウ XAFS ソクテイ
- Partial Fluorescence Yield XAFS Measurements in Lower Soft X-Ray Region by Using Large-Caliber Silicon Drift Detector
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Journal
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- X線分析の進歩 / 日本分析化学会X線分析研究懇談会 編
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X線分析の進歩 / 日本分析化学会X線分析研究懇談会 編 (43), 147-152, 2012-03
東京 : アグネ技術センター
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520572359973256960
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- NII Article ID
- 40019263023
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- NII Book ID
- AN0000592X
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- ISSN
- 09117806
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- NDL BIB ID
- 023653236
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZP4(科学技術--化学・化学工業--分析化学)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles