電子ビーム・テスタとCAD装置を結び,試作チップを診断する
書誌事項
- タイトル別名
-
- デンシ ビーム テスタ ト CAD ソウチ オ ムスビ シサク チップ オ シ
この論文をさがす
抄録
記事分類: 電気工学--電子工学--集積回路
収録刊行物
-
- 日経エレクトロニクス = Nikkei electronics : sources of innovation
-
日経エレクトロニクス = Nikkei electronics : sources of innovation (422), p89-90, 1987-06-01
東京 : 日経BP
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1520572360224780544
-
- NII論文ID
- 40002803796
-
- NII書誌ID
- AN0018467X
-
- ISSN
- 03851680
-
- NDL書誌ID
- 3130768
-
- 本文言語コード
- ja
-
- NDL 雑誌分類
-
- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
-
- データソース種別
-
- NDL
- CiNii Articles