超高真空中接触角測定法によるGaAs基板表面の『その場』観察
Bibliographic Information
- Other Title
-
- チョウ コウ シンクウ チュウ セッショクカク ソクテイホウ ニ ヨル GaAs キバン ヒョウメン ノ ソノバ カンサツ
Search this article
Journal
-
- 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
-
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 99 (257), 19-24, 1999-08-06
東京 : 電子情報通信学会
- Tweet
Details 詳細情報について
-
- CRID
- 1520572360261627904
-
- NII Article ID
- 110003199434
-
- NII Book ID
- AA1123312X
-
- ISSN
- 09135685
-
- NDL BIB ID
- 4851970
-
- Text Lang
- ja
-
- NDL Source Classification
-
- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
-
- Data Source
-
- NDL
- CiNii Articles
