応力発光技術による欠陥・ひずみ可視化技術
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- オウリョク ハッコウ ギジュツ ニ ヨル ケッカン ・ ヒズミ カシカ ギジュツ
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- 検査技術 / 検査技術編集委員会 編
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検査技術 / 検査技術編集委員会 編 18 (11), 15-20, 2013-11
東京 : 日本工業出版
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520573328496379136
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- NII Article ID
- 40019836914
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- NII Book ID
- AA12468038
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- ISSN
- 13429825
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- NDL BIB ID
- 024947921
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZM5(科学技術--科学技術一般--工学・工業)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles
