原子レベル計測のための試料自動作製技術 : FIBマイクロサンプリング「NB5000」
書誌事項
- タイトル別名
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- ゲンシ レベル ケイソク ノ タメ ノ シリョウ ジドウ サクセイ ギジュツ : FIB マイクロサンプリング 「 NB5000 」
- Auto Fabrication Technology of Electron Microscope Specimen for Atomic Order Measurement
- 特集 測る : 社会・産業分野に貢献する計測技術
- トクシュウ ハカル : シャカイ ・ サンギョウ ブンヤ ニ コウケン スル ケイソク ギジュツ
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抄録
コレクション : 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > その他
収録刊行物
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- 日立評論
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日立評論 94 (2), 184-187, 2012-02
東京 : 日立評論社
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520573330000390400
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- NII論文ID
- 40019236522
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- NII書誌ID
- AN00298883
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- ISSN
- 03675874
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- NDL書誌ID
- 023598175
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZM5(科学技術--科学技術一般--工学・工業)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles