半導体の界面準位の分光学的な観測方法と準位密度の低減
Bibliographic Information
- Other Title
-
- ハンドウタイ ノ カイメン ジュンイ ノ ブンコウガクテキ ナ カンソク ホウホウ ト ジュンイ ミツド ノ テイゲン
Search this article
Abstract
コレクション : 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 学術機関 > 学協会
Journal
-
- 表面科学 = Journal of the Surface Science Society of Japan / 日本表面科学会 編
-
表面科学 = Journal of the Surface Science Society of Japan / 日本表面科学会 編 20 (4), 279-287, 1999-04
東京 : 日本表面科学会
- Tweet
Details 詳細情報について
-
- CRID
- 1520573330208903936
-
- NII Article ID
- 10002267671
-
- NII Book ID
- AN00334149
-
- ISSN
- 03885321
-
- NDL BIB ID
- 4707591
-
- Text Lang
- ja
-
- NDL Source Classification
-
- ZM35(科学技術--物理学)
-
- Data Source
-
- NDL
- CiNii Articles
