第4世代のテスト・プロセス
Bibliographic Information
- Other Title
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- ダイ4 セダイ ノ テスト プロセス
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コレクション : 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 独立行政法人
Journal
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- SEC journal / 情報処理推進機構技術本部ソフトウェア・エンジニアリング・センター 編
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SEC journal / 情報処理推進機構技術本部ソフトウェア・エンジニアリング・センター 編 2 (1), 6-15, 2006-01
東京 : 情報処理推進機構技術本部ソフトウェア・エンジニアリング・センター
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520573331154275328
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- NII Article ID
- 40007165469
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- NII Book ID
- AA12006098
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- ISSN
- 13498622
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- NDL BIB ID
- 7842165
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZM13(科学技術--科学技術一般--データ処理・計算機)
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- Data Source
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- NDL
- CiNii Articles
