FEMによる電流通電機構の長寿命化と信頼性確立のための接触不良問題解決法の研究
書誌事項
- タイトル別名
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- FEM ニ ヨル デンリュウ ツウデン キコウ ノ チョウジュミョウカ ト シンライセイ カクリツ ノ タメ ノ セッショク フリョウ モンダイ カイケツホウ ノ ケンキュウ
- Research on loose connection problem of current collecting mechanism by FEM
- [日本工業大学]学内特別研究および国外研修に関する特集号 ; 教育・研究活動報告--学内特別研究
- ニホン コウギョウ ダイガク ガク ナイ トクベツ ケンキュウ オヨビ コクガイ ケンシュウ ニ カンスル トクシュウゴウ ; キョウイク ケンキュウ カツドウ ホウコク ガク ナイ トクベツ ケンキュウ
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収録刊行物
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- 日本工業大学研究報告 = Report of researches / Nippon Institute of Technology
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日本工業大学研究報告 = Report of researches / Nippon Institute of Technology 40 (2), 448-451, 2010-09
宮代町 (埼玉県) : 日本工業大学
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1520853831992027904
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- NII論文ID
- 40017328287
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- NII書誌ID
- AN00188987
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- ISSN
- 03892514
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- NDL書誌ID
- 10853363
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- 本文言語コード
- ja
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- NDL 雑誌分類
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- ZM2(科学技術--科学技術一般--大学・研究所・学会紀要)
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- データソース種別
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- NDL
- CiNii Articles