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- NE アカデミー HDD ト SSD オ ツカイコナス(ダイ6カイ)SSD ノ ジュミョウ ワ DWPD オ シヒョウ ニ ECC ノ ゲンカイ ニ モ リュウイ
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SSDの代表的な不具合事例が三つある。OS起動用に利用しているSSDでのデータ破損や消失、MLC（multi-level cell）のNANDフラッシュ・メモリを採用したSSDのパラドックスによるもの、そしてRAID技術への過信によるものである。 このうち、最近特に多く見られるのが、OS起…
Journal
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- 日経エレクトロニクス = Nikkei electronics : sources of innovation
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日経エレクトロニクス = Nikkei electronics : sources of innovation (1115), 72-76, 2013-08-19
東京 : 日経BP
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1520853832003335040
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- NII Article ID
- 40019732752
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- NII Book ID
- AN0018467X
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- ISSN
- 03851680
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- NDL BIB ID
- 024742776
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- Text Lang
- ja
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- NDL Source Classification
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- ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
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- Data Source
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- NDL Search
- Nikkei BP
- CiNii Articles
